KD－XMC型摩擦系统数测定仪主要用于薄膜和薄片自身和其它材料表面滑动时的静摩擦系数和动摩擦系数的测定，是工厂企业，科研单位，大专院校理想的测试仪器。 仪器符合GB/T10006－88、ISO8295－1986标准要求。

一、用途

KD-XMC型摩擦系统数测定仪主要用于薄膜和薄片自身和其它材料表面滑动时的静摩擦系数和动摩擦系数的测定，是工厂企业，科研单位，大专院校理想的测试仪器。

仪器符合GB/T10006-88、ISO8295-1986标准要求。

二、技术指标

1． 力值分辨率：0.0001N

2． 力值精度：±1%

3． 速度：100mm/min   ±1%

4． 电源：220V±10%  5A  50Hz

5． 最大功率：50W

6． 滑块质量：200±2g

7． 环境要求： 无强电磁场，无震动，无腐蚀性气体