MicropXRF-2020镀层测厚仪
主要用于金属材料表面涂镀层厚度的测量，一般常采用无损检测方法。但是，由于测量对象、测量方法、测量环境、仪器设备等因素引进了诸多测量误差，为确保测量结果的准确可靠，有必要对其进行不确定度分析。
镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。测量方法主要有:楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
XRF-2020镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
XRF-2020镀层测厚仪主要是用作检测工件上的涂层后者镀层的厚度的一款仪器，这类测厚仪有很多种，主要是用作金属上涂层或者镀层厚度检测的。 涂层厚度检测仪器就测量原理上分为磁性测厚仪和非磁性测厚仪。镀层测厚仪机型分类 一般可分为分体机和一体机，分体机即探头与主机有一条探头线联接，一体机探头为内置式。
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