镀层测厚仪
型号：TX-200
元素分析范围从硫（S）到铀（U）。
一次可同时分析zui多24个元素，五层镀层。
分析检出限可达2ppm，zui薄可测试0.005μm。
分析含量一般为2ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
镀层测厚仪技术指标
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定测试点，重复定精度小于0.005mm
采用高度定激光，可自动定测试高度
定激光确定定光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
镀层测厚仪
http://www.delptek.net/delptek88-SonList-927962/
https://www.chem17.com/st221123/erlist_927962.html
