LTE-NFC 4G手机测试卡（白卡） 最新4G手机出厂测试必备，LTE测试白卡为4G主要的综合测试仪器使用的测试卡，它为4G网络提供了一个优良的测试环境。LTE-NFC测试白卡不仅从性能和使用寿命上做了很大的改进，还添加了多功能网络的测试，满足了一卡多机的测试，减少了频繁换卡的烦恼，从而提高了生产效率。主要配合综合测试仪安利CMW500、 LTE罗德和施瓦茨对手机进行无干扰综合测试。
我们公司的NFC测试卡、4G测试卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、测试卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA手机测试、TD-SCDMA测试卡、CDMA2000测试卡、手机测试卡采用国际著名半导体厂商生产的专用芯片，3V/5V兼容5-6触点兼容设计，适合一切手机.、配以专用COS系统，全面遵从4G手机、3G对手机、2G手机等，我司的测试卡的各项规范特殊的半导体硅衬，保证卡片可以承受10牛顿／每平方米的压力。（GSM标准为4牛顿／每平方米）适合工业化生产线使用，采用超长寿命EEPROM，保证读写次数在10万次以上。（3G标准只要求3万次，按一般生产线测量要求，每部手机的读写次数为10次，可测一万部手机。），专利芯片保护层，保证卡片安全，防电子攻击。耐压6.5V以上特殊卡片涂层，抗静电（ESD），防水（48小时浸泡试验）特殊卡体材料（ABS混合高温PVC），耐高温，45度可正常工作4小时以上。75度温度冲击试验.
