A型灵敏度试片先由日本无损检测学会提出，以后为多个国家使用，主要用于零部件的磁粉探伤，在检查中，对几何形状复杂，不同材质的工作，可以正确地选择磁化规范，并可检查探伤设备，磁粉和磁悬液的性能，在磁粉探伤操作过程中，可以避免漏检，正确地知道探伤工作所需的电流峰值和方向，并对显示缺陷的磁场强度有所估量A型灵敏度试片是磁粉探伤工作者必备的调试工具。
磁粉探伤A型标准试片特点：
试片用于磁粉显示，图象直观，使用简便。对各类零件所有方向的磁场，尤其检查形状复杂的零件时，表现其独特的优点。
磁粉探伤A型标准试片性能规格：
A型标准试片分为A1、A2；A1为退火材料制成，A2为不作热处理的冷轧材料制成。本试片按JB4730-2005标准特别注明A1试片，与日本JISG0565-6标准和美国ASME SE709标准相对应。本试片为A1 （15/50μ）标准试片。相当于A1型试片中2# (30/100μ)标准灵敏度试片，规格为（8-9）D；适用于中灵敏度探伤，其中括号中分子为槽深，分母为试片厚度，单位为（微米），D为工件直径。
本套试片包括： 1# 15/100μ 2# 30/100μ 3# 60/100μ 4# 7/50μ 5# 15/50μ 6# 30/50μ
共六片不同规格的试片组成
磁粉探伤A型标准试片使用说明：
一、试片使用前，应先将其有槽面向下用胶带纸密贴于适当的磁铁性圆柱形试件上（一般用直径D=50mm），以通电法进行周向磁化，实施湿式磁粉连续法的探伤操作，以求出该试片在实际应用条件下出现特征磁痕显示（如中灵敏度试片为1/2周，高灵敏度为1/3周）时所需的临界磁化电流I0（A）(峰值)，并由下式计算出该试片特征磁痕显示所需的临界有效磁场强度值H0（Oe）：H0=4I0/D。（按本所条件测定，A1-15/50和A1-30/100的H0为22～28Oe、A1-7/50和A1-15/100的H0为50～56Oe）。
二、根据探伤所要求的磁化规范选用适当型号的试片（一般标准规范A1-15/50或A1-30/100，严格规范选A1-7/50或A1-15/100），密贴于工件的被检处，进行连续法的探伤操作，如当磁化电流达I0＇、试片呈现上述特征磁痕显示时，即说明工件被检处已被磁化至具有该试片的临界有效磁场强度值H0。若被检处要求磁化至H值（H> H0）则可由下式求出所需的磁化电流值：I= I0＇×H/ H0。
三、将试片（常用A1-15/50）贴在特定的试件上进行磁化，检验其能否出现特征磁痕显示，并将其所对应的临界磁化电流值与正常值对比，便可正确评价探伤系统的综合性能、装备性能、磁粉或磁悬液性能、以及操作是否正确。
四、注意事项：
1、试片用毕应以煤油洗净并涂上防锈油后插入原装片袋内保存，已锈蚀者不宜再使用。
2、试片不应反复弯折、撕拉，以防刻槽开裂，已变形或开裂的试片不宜再使用。
3、试片只限用于连续法显示，不宜用于剩磁法，但可按材料的βr-H曲线确定剩磁法的磁化规范。
