一、薄膜折射率测试概述
RT-V 系列反射透射测量仪，采用进口氘卤二合一光源，结合高性能分光光谱仪，可测量获得紫外到近红外光谱范围内薄膜的反射率和透射率光谱，并进一步计算获得样品色坐标，以及薄膜厚度、光学常数等信息。
高性价比穿透率、反射率测量解决方案
色坐标计算和薄膜特征解析
模块化定制，支持在线集成应用
二、薄膜折射率测试产品特点
采用高性能进口氘卤二合一光源，光谱范围覆盖可见光到近红外范围；
支持全光谱范围反射率高精度量测，基于薄膜层上下界面反射光干涉原理，轻松解析单层至多层薄膜特征；
三、薄膜折射率测试产品应用
RT系列反射透射测量仪，可实现各种透明、低对比度、高反射率样品反射率和穿透率光谱快速精准测量，并进一步计算获得样品色坐标、薄膜样品厚度及光学常数。广泛应用于各种滤光片、滤镜、镜头、玻璃、染色液、薄膜的测量。
薄膜折射率测试仪主要基于光学原理，通过检测光在薄膜中的传播特性来确定薄膜的折射率。常见的原理包括反射法和透射法。
反射法
当光线照射到薄膜表面时，一部分光被反射回来。根据菲涅尔公式，反射光的强度、偏振状态等与薄膜的折射率有关。
例如，对于垂直入射的光，在两种介质（如空气和薄膜）的界面处，反射率是周围介质（如空气）的折射率。通过测量反射光的强度等参数，可以反推出薄膜的折射率。
椭圆偏振法是一种先进的反射式测试方法。它利用椭圆偏振光照射薄膜，由于薄膜对不同偏振方向的光具有不同的反射系数，导致反射光的偏振状态发生变化。通过分析这种变化，可以得到薄膜的折射率和厚度等信息。
透射法
光透过薄膜时，会发生折射和部分吸收。根据斯涅尔定律，光从一种介质进入另一种介质时，会发生折射，折射角与两种介质的折射率有关。
对于透射光，其强度也会受到薄膜的折射率和厚度的影响。例如，当光垂直入射时，透射光强度是入射光强度d是薄膜厚度。通过测量透射光的强度、相位等参数，结合已知的薄膜厚度等信息，可以计算出薄膜的折射率。
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