选择武汉普赛斯的理由

普赛斯加入PXISA联盟，依托所掌握的核心技术推出PXIe模块化测试平台，PXIe模块化测试平台以其高带宽、高集成度、产品复用性强等特点深受客户欢迎，经过长期的技术沉淀及软硬件迭代升级，确保生产设计符合PXIe标准的模块化仪器。普赛斯为客户提供全套PXIe测试系统，包含系统卡/远程卡、机箱和各种功能模块板卡，并将持续研发投入，推出更多符合市场需求的功能模块板卡，在此基础上提供测试系统解决方案满足客户需求。

产品概述

PXIe-5180是一款8通道独立的高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，最大支持10V，500mA直流/脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIe         Trigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本,主要用于硅光晶圆|器件测试、逻辑|模拟IC、光电探测器（含MPPC/SiPM）、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试。详询一八一四零六六三四七六                

产品特性

8个独立的源测量通道，支持并行测试

蕞大支持±10V，±500mA输出

单通道蕞大3W输出/吸收功率，8通道蕞大支持24W  

蕞大电流电压分辨率低至10pA/100μV  

支持脉冲输出，脉宽低至100μs，占空比0~100%可调                  

蕞高支持1MS/s采样率，适合高速信号采集和动态测试                 

支持0.001~10 NPLC积分时间设置，兼顾高速及高精度测量

支持连续、sweep、序列等多种工作模式

支持8通道外同步触发，极性及占空比可调

支持2线、4线测量，具备Guard输出保护  

支持标准SCPI指令集，提供完善的驱动及示例代码

应用范围

半导体晶圆、芯片特性测试

LD激光器、硅光器件特性测试

太阳能电池充放电、寿命测试

传感器及材料测试

联系我们：

武汉普赛斯仪表有限公司 陶女士

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