PXIe-5141是4通道独立的PXIe插卡式高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，蕞大支持30V,500mA直流/脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本。主要用于硅光晶圆、逻辑|模拟IC、光电探测器（含MPPC/SiPM）、MEMS传感器、分立器件WAT多通道iv电性能测试。详询一八一四零六六三四七六                

产品特点

·四个完全独立的源测量通道，支持并行测试
·最大支持±30V±500mA输出
·最大支持单通道3W功率输出或吸收
·支持标准SCPI指令集，提供完善的驱动及示例代码
·支持脉冲输出，脉宽低至100μs，占空比0~100%可调

·四支持连续、sweep、序列等多种工作模式
·最大电流电压分辨率低至1  0pA/100μV
·支持DI0外部同步触发接口，支持2/4线测量

应用范围 

半导体晶圆、芯片特性测试
LD激光器特性测试  
太阳能电池充放电、寿命测试
传感器及材料测试

联系我们：

武汉普赛斯仪表有限公司 陶女士

Web:http://www.whpssins.com

Add:武汉市东湖新技术开发区光谷三路777号移动终端1号楼3层

Tel：027-87993690

Mobile:18140663476

QQ：1993323884

Email:taof@whprecise.com

武汉普赛斯一直专注于半导体的电性能测试仪表开发,基于核心算法和系统集成等技术平台优势,率先自主研发了高精度数字源表、脉冲式源表、脉冲恒流源、大电流脉冲电源、CS/PXIe系列插卡式源表、功率器件测试设备、半导体参数分析仪等产品,广泛应用在半导体器件材料的分析测试领域。欲了解更多硅光晶圆测试多通道数字源表PXIe插卡式源表信息，欢迎随时咨询普赛斯仪表！