LET-2000D系列是力钛科公司开发出的满足IEC60747-8/9标准的半导体动态参数分析系统。旨在帮助工程师解决器件验证、器件参数评估、驱动设计、PCB设计等需要半导体动态参数的场景所遇到的困难。特别对于第三代半导体的测试，LET-2000D有着较高的系统带宽和测试精度，可以有效准确的测量出实际的器件参数
系统参数：
● 测量电压：标配2000V覆盖650V,1200V,1700V器件的测试。 可升 级到10000V。
● 测量电流：标配200A，覆盖单管、及部分模块的测量。 可升级到6000A。
● 短路电流：2000A
● 测量参数：Vce/Vds,Ic/Id,Vgs/Vge,toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on), tr(Ic), Eon, dI/dt, dv/dt, Err, Qrr, trr, Irr 等。
● 测量项目： 开关参数、短路参数、反向恢复参数、安全工作区等
● 测量器件：单管/模块，MOSFET、IGBT、FWD、GTR…
● 系统带宽：350MHz、500MHz、1GHz
● 测量通道：4CH
● 双脉冲脉宽：最小20ns，最大150us。
● 双脉冲数：单脉冲、2-30脉冲
● 测量依据标准：IEC60747-8 and IEC60747-9、 JEDEC JEP173
